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OLED显示模组寿命测试系统
OLED显示模组寿命测试系统平铺式模组寿命可搭载亮度计直接量测发光膜组的真实数值，在研发和过程数据评判工作中，可起到重要作用。 -
OLED/QLED 发光器件寿命测试系统
OLED/QLED发光器件寿命测试系统通道数量：32、64、128，可扩展到512路；测量模式1：恒流、恒压、恒亮度，需根据客户需求选定 -
TruetestLCD/OLED缺陷自动光学检测系统
在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围–从简单的点缺陷检测到复杂的Mura检测和评估。